利用蔡司扫描电镜观察样品表面形貌，对于不耐电子束辐照或导电性不好的样品，若采用较高的加速电压(一般10 kV以上)，样品表面会出现电荷积累，产生荷电效应，严重影响观察。选择低的加速电压(一般3 kV以下)，可以有效地减少对样品的损伤和荷电效应。

　　虽然低加速电压有以上优点，但是低加速电压比高加速电压的分辨率低。应用减速模式(Deceleration Mode)可在保持较高分辨率的同时又保持低电压的优势，其原理如图1所示，即在电子枪发射电子束时使用较高的加速电压(Accelerating Voltage)，出极靴后，电子束在样品台和极靴之间的减速电场(Stage Bias)的作用下被迫减速，使实际到达样品的电压(Landing Voltage)减小。这样的电子束既保持了高加速电压的分辨率，又实现了低加速电压有效减少对样品的损伤和荷电效应的能力。双束电镜Helios G4 CX在减速模式下的Stage Bias的调节范围为50~4000 V。图2是应用普通模式和减速模式所拍的聚苯乙烯小球的形貌，可以看出减速模式在消除荷电效应的同时，还提高了分辨率。

　　图1 减速模式工作原理示意图

　　图2 不同模式下拍摄的聚苯乙烯小球的形貌(a)普通模式;(b)减速模式。

　　虽然减速模式有上述优点，但是其应用有很多限制条件。由于减速场是加在样品台上的，因此样品不能有大的凹凸起伏，最好是薄的(分散在导电胶带或液体导电胶或硅片上的粉末样品)，样品台边缘附近减速场不均匀，所以要将样品放在样品台中间，开启减速场之前，样品台不应有倾转角(Stage Tilt=0o)，也不能插入EasyLift纳米机械手或GIS-Pt，这些都会导致电场发生畸变，产生不可校正的图像像差。开了减速场之后，也无法使用离子束成像或加工。