蔡司三坐标的扫描技术

　　蔡司在30年前就推出了*台扫描系统，这一创举彻底改变了测量技术的发展趋势。从那时起，我们不断提*测量技术和测量方法。随着主动扫描和VAS下navigator*技术以及Fly-Scan翔扫描等应用，蔡司三坐标确立了其坐标测量技术创新*的地位。

　　接触式扫描的发明者

　　1974年，蔡司*在精密测量实验室的坐标计量中采用了扫描的方法。随1995年VAST测头的问世，该项技术随即成为工业和车间测量的标准。就经验和技术而言没有其他任何坐标测量机制造商可望其项背。在*范围内，所有已安装的扫描系统中，大约75%来自蔡司。

　　更多优势一更加精密

　　连续扫描不同于触发式探针系统的单点测量，可连续探测工件表面，保证迅速捕获大量有特征的测量点。大量的科学研究表明，一个特征的不确定性和测量点的数量之间存在一个明显联系。

　　形状检验

　　*度*的扫描方式可以通过过滤对加工过程进行追溯，在其中可以完成各种形状的检验，如圆度、直线度、表面形状、圆柱度、圆锥、球等的检验。在许多情况下，这样的方式可以减少更多昂贵的形状检验、轮廓和表面测量机。

　　自定心

　　随着蔡司的DT, VAST XT gold和VAST

　　gold测头，自定心可以在下陷处、齿轮2D和3D角落中快速、简便、准确的进行测量，从而大大扩展了测量可能性。蔡司的VAST XT gold和VAST gold也可以对已知的和未知的几何形状和曲线进行自定心和扫描。

　　可调节的测力

　　可调节的测力使操作人员方便的测量不同材料制成的各种不稳定工件，无需了解变形带来的测量问题。另外，工件程序中的测力可以根据测针和工件稳定性进行更改。

　　更好的再现性

　　测量部位的*密度也可以使测量具有更好的再现性。如果从设备上拆下一个工件然后又重新装入，而再次装入没有安装在同一个位置上。使用单点测头进行重复测量则可能会出现不同的测量数值。然而由于扫描测头具有*的测量性能，它可以对位置和形状进行差异化的分析而得到相同的结果。独特的蔡司技术:主动式扫描

　　大多数扫描系统为被动式设计。其测力由一个弹性平行四边形生成。由于被动探头的控制范围小，不断变化的测力会对它们造成不同的影响，从而导致测针发生较大的弯曲并导致大的探测误差。这样当轮廓曲率增大时，精度就会降低。相反地，蔡司三坐标采用主动扫描探头一也是*一家提供主动探头的制造商。例如蔡司的VASTXTgold探头连续测量测针挠度。主动在材料的法线方向施加一个恒定低电子测力。例如，蔡司三坐标测针沿桥架加速的方向移动。从而排除了测力的影响。由于可以保持极小的恒定测力，则使测量结果更加*