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X射线显微镜销售总裁坚信Xradia设备能协助东芝更好的领导日本中部的3D分析市场

   纽约州桑伍德市-卡尔蔡司X射线显微镜(原为Xradia,Inc.)2014年宣布,总部位于日本川崎的东芝纳米分析公司已选择最近推出的蔡司Xradia520 Versa3D X射线显微镜(XRM)来扩展功能繁忙的分析实验室 东芝纳米分析为工业和学术界的半导体,生物科学和材料科学研究中的复杂分析需求提供成像服务。

  评估与分析技术中心总经理KoichiroTomoda先生认为,东芝纳米分析实验室服务团队的主要吸引力在于该仪器前所未有的灵活性。“我们相信Xradia520Versa将使我们能够扩展实验室的能力,以研究更多种不同的材料。我们很高兴开始使用这种3DX射线显微镜来扩展我们能够为客户提供的应用程序的数量。”
  Xradia520Versa专为研究难以成像的材料及其在工业和科学实验室环境中的微观结构的演变而设计。它具有先进的对比度调整功能,广泛的过滤选项和增强功能,可提供更高的准确性和工作流程效率,从而扩展了非破坏性3D现场成像和4D(随时间推移)成像的边界。
  卡尔·蔡司X射线显微镜全球销售副总裁VahanTchakerian先生说:“东芝正在扩展对蔡司XradiaVersa3DXRM系列的使用,我们感到非常高兴。“有了这一补充,东芝纳米分析公司就可以很好地领导日本中部的3D分析市场。”
  Xradia520Versa利用蔡司Xradia同步加速器口径光学器件以及业界最佳的分辨率和对比度功能,可用于各种类型和大小的样品,包括:
  •双扫描对比度可视化仪(DSCoVer),用于成分对比度:灵活的并排调整两个不同的断层扫描可以对通常在单次扫描中无法区分的特征进行成分探测。
  •高纵横比层析成像(HART):较高通量的成像模式,对于平坦的样品几何体,层析成像的采集速度最高可提高50%,并利用蔡司Xradia的“远距离分辨率”(RaaD)领导力来克服传统成像效率低下的问题长宽比样本。
  •自动过滤器更换器:无需手动干预即可在配方中更改选择或特定于应用程序的过滤器,从而更易于使用和提高工作流程效率。
  •原位接口工具包:可选,可实现最高性能的原位3DXRM表征。
  昆山友硕是蔡司授权的代理商之一,如果您欲了解X射线显微镜的相关参数及价格的话欢迎致电我们,我们将竭诚为您服务。