蔡司推出全新FIB双束电镜 Crossbeam 550 Samplefab

　　作为一款专为半导体行业 TEM 样品制备开发的高端聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)Crossbeam 550 Samplefab 提供优异的灵活性自动化功能和用户友好设计，帮助半导体行业的样品制备更加简便高效。

　　全新界面

　　用户友好的软件操作体验

　　配备直观的行业标准图形用户界面

　　软件功能模块高度整合，轻松上手

　　无论是专家还是新手，都能拥有友好的操作体验

　　配置优化

　　提升设备和软件的稳定性

　　专门为半导体行业 TEM 样品制备而优化的配置方案

　　提高了设备和软件的稳定性

　　确保样品制备的持续稳定工作，提高实验室产出

　　全新体验

　　全自动TEM样品制备流程

　　蔡司双束电镜 Crossbeam 550 Samplefab

　　提供了全自动解决方案

　　实现无人值守的多点位TEM薄片制备

　　旨在优化工作流程，一位操作员即可控制多台设备

　　最大化生产力并确保样品质量

　　多样制备

　　满足原位/非原位样品需求

　　具备强大的原位(in-situ,lift-out)与

　　非原位(ex-situ,pick-up)样品全自动制备能力

　　适应各种制样方法的多样需求

　　灵活操作

　　自由选择手动/自动制样

　　既支持手动操作也支持自动操作，适应用户偏好在手动或自动工作流程中均能提供高质量结果。

　　凭借其优异的灵活性、自动化制样功能以及用户友好设计和稳定性,蔡司扫描电镜 Crossbeam 550 Samplefab 将显著　提高半导体样品制备的效率与精度,帮助工程师完成日常的高产量 TEM 薄片样品制备。

　　蔡司致力于通过创新的技术解决方案，不断推动半导体行业迈向更高效、更精确的样品制备新时代。

昆山友硕新材料有限公司是蔡司中国代理，主要经营蔡司三坐标、蔡司扫描电镜、蔡司工业CT等。电话热线：15262626897