蔡司聚焦离子束扫描电镜(FIB-SEM)Crossbeam系列：专为高通量三维分析和样品制备量身打造的FIB-SEM

　　将高分辨率场发射扫描电子显微镜(FE-SEM)的成像和分析性能与新一代聚焦离子束(FIB)的加工能力相结合。无论在科研机构还是工业实验室，您都可以在多用户实验平台中工作。利用蔡司Crossbeam的模块化平台概念，根据日益增长的需求升级您的系统，例如使用LaserFIB进行大规模材料加工。在切割、成像或执行三维分析时，Crossbeam将提升您的FIB应用效率。

　　使您的SEM具备强大的洞察力

　　使用Gemini电子光学系统从高分辨率扫描电子显微镜(SEM)图像中获取真实的样品信息。

　　在进行敏感表面二维成像或三维断层扫描时，Crossbeam的SEM性能值得您信赖。

　　加速电压非常低时也可获得高分辨率、高衬度和高信噪比的清晰图像。

　　借助一系列探测器实现样品的全方位表征。使用Inlens EsB探测器获得更纯的材料成分衬度。

　　研究不受荷电伪影干扰的非导电样品。

　　提升您的FIB扫描电镜样品制备效率

　　智能FIB扫描策略快速且精准，移除材料比以往实验快40%以上。

　　Ion-sculptor FIB镜筒采用了一种全新的加工方式：您可以尽可能减少样品损伤，提升样品质量，从而加快实验进程。

　　使用高达100 nA的离子束束流，高效而精准地处理样品，并保持高FIB分辨率。

　　制备TEM样品时使用Ion-sculptor FIB的低电压功能，以获得超薄样品，同时尽可能降低非晶化损伤。

　　在您的FIB-SEM扫描电镜分析中体验出色的三维空间分辨率

　　体验整合的三维EDS和EBSD分析所带来的优势。

　　在切割、成像或执行三维分析时，Crossbeam将提升您的FIB应用效率。

　　使用我们快速准确的断层扫描及分析软硬件包蔡司Atlas 5来扩展您Crossbeam的性能。

　　使用Atlas 5中集成的三维分析模块可在断层扫描的过程中进行EDS和EBSD分析。

　　尽享FIB-SEM断层扫描中优异的三维空间分辨率和各向同性的三维体素尺寸。使用Inlens EsB探测器探测小于3 nm的深度，并可获得表面敏感的材料成分衬度图像。

　　在切割过程中收集连续切片图像以节省时间。尽享可跟踪的三维体素尺寸和保证图像质量的自动流程为您带来的优势。

　　晶硅电池在一定意义上习惯被称为第一代太阳能电池技术，目前技术上仍然在不断取得突破，第二代太阳能电池技术以砷化镓，碲化镉等薄膜电池为代表，但由于其成本较高，技术受控等原因在我国发展相对受限，以钙钛矿为代表的第三代太阳能电池则在我国遍地开花，各大企业纷纷布局。太阳能电池的效率受到其半导体材料带隙间隙的影响，传统晶硅电池的理论极限效率约在28-29%左右，而钙钛矿叠层电池的理论极限效率则可达到40%以上。钙钛矿叠层电池可以继续使用晶硅电池产线实现钙钛矿-晶硅叠层电池的生产，其中以晶硅为衬底涂布钙钛矿材料制备太阳能电池需要用到涂布工艺，其生产过程与锂电池和燃料电池极片涂布技术类似，但要求更加严苛，涂层更薄(约0.5-1.5微米)，生产工艺控制难度更高。

　　对太阳能电池来说其使用寿命是非常重要的话题，业界一般使用T80寿命评价太阳能电池性能，即在户外工作条件下，组件效率衰减为初始值80%所需时间。提升太阳能电池稳定性的重要影响因素除了电池材料本身之外还包括电池的封装。如常用的EVA封装胶膜，金属背板，表面钢化玻璃等。对电池老化的研究以及失效分析中需要对材料微观形貌以及对引入杂质离子进行检测分析。

　　蔡司扫描电镜技术凭借其先进的光电子技术，独特的物镜结构，优秀的镜筒设计能够实现高分辨率的微观形貌观察，在太阳能电池应用中无论是涂层颗粒度，涂层厚度，孔隙率分析，材料失效分析等都能发挥其独到的优势。

　　光伏产业的声势此起彼伏，伴随着陈旧产能出清，新技术的不断发展，行业布局不断更迭，对不同技术的选择和开拓也离不开对产品技术路线的不断深入探索。“十四五”规划中对光伏产业也提出了很多重要指标，光伏产业量质并举，势在必行。