随着科技的发展AR/VR设备已展现出颠覆性的创新，那么如何对这些设备进行无损检测呢？今天蔡司一级代理昆山友硕小编就来介绍一下蔡司扫描电镜对于VR设备膜的检测方案。

　　随着产品的迭代，AR/VR设备已展现出颠覆性的创新。科技巨头的布局也进一步加速了AR/VR等智能穿戴设备的发展。当前，AR/VR等智能穿戴设备日益普及，用户的要求和期待也在不断提升——轻薄化、佩戴体验、交互升级。为满足这些需求，核心硬件技术在不断提升的同时，也为配套的检测、测量方案带来了新的挑战。

　　Pancake 方案带来的检测难题

　　其中，轻薄化将成为显著趋势，超短焦光学折叠光路(Pancake)设计方案由于在轻薄化方面有重大突破，或将成为下一阶段VR设备主要升级方向。

　　Pancake方案利用半透半反偏振膜的透镜系统折叠光学路径，光线在镜片、相位延迟片以及反射式偏振片之间多次折返，最终从反射式偏振片射出进入人眼。Pancake 模组生产技术难度主要集中在膜材料质量、贴膜工艺和组装调整三方面。相比传统非球面透镜和菲涅尔透镜，Pancake模组功能优势在于光路折叠，光学膜在成像中起到了至关重要的作用，因此膜材料的质量和贴膜工艺相对应构成了技术核心。

　　针对膜的检测，用于材料分析的蔡司扫描电镜-EVO10能够提供高分辨率观察和测量，无需涂镀或其它准备方法即可检测非导电样品，将EVO集成到使用光学或X射线显微镜的多模式工作流程中，可获得更有意义的数据。值得一提的是，新一代的钨灯丝扫描电镜EVO具有紧凑型扫描电子显微镜的所有优势，还可提供台式扫描电镜无法实现的功能、分析选项和数据质量。该设备即便是对非显微镜专家来说也易于使用。此外，获得结果的时间短，可实现快速高分辨率观测，工作效率高。

　　Pancake 方案光路设计复杂，组装和对齐调整要求很高，细微差异便会导致光学模组整体的光路变化。蔡司工业CT METROTOM可以对组装后的Pancake模组进行整体3D内部结构及缺陷的观察，不需要破环样品，就能够实现内外尺寸的高精度无损测量。