蔡司公司是世界可见光及电子光学的领*企业，在光学仪器和三坐标精密测量仪器方面素有盛名。最近他们为他家的ZEISS Xradia 3d x射线显微镜和X射线计算机断层扫描测量机推出了高级重建工具箱。工具箱中包含了这两个模块:一是升级的ZEISS OptiRecon三维重建;二是ZEISS DeepRecon，显微镜领域的第一个商业化深度学习重建技术。

　　其中，ZEISS高级重建工具箱是一种基于超越典型的“滤波背投”或Feldkamp-Davis-Kress(FDK)算法的先进重建技术，这个基于AI的工具箱可以实现更少的投射，根据模块和材料的不同，扫描时间最多可减少10倍。这些发展可以改善数据收集和分析，以加快决策;而ZEISSOptiRecon可以让研究人员通过改善对比度-噪声比，在广泛的样品类别上实现卓越的内部断层扫描或吞吐量，并将具有重复性工作流程的样品类别的速度提高了一个数量级。与此同时，ZEISS OptiRecon和ZEISS DeepRecon模块都能很好地保持图像质量，这些新功能解决了传统的选择图像质量或样本吞吐量的问题。

　　韩国东信大学的J.H.Shim博士曾是电子行业的首席研究员，他在谈到典型的研究应用时提到，由于OptiRecon和DeepRecon能够在很短的扫描时间和很少的投影数量下实现聚合物分离器的可视化，因此它们对于电池行业的客户来说是非常棒的应用。