蔡司三坐标-工业质量解决方案的百年品牌

收藏网站站点地图

咨询电话:
400-1500-108

蔡司三坐标

工业质量解决方案百年品牌

蔡司新闻
联系我们
全国咨询热线:400-1500-108

电话:0512-50369657

传真:0512-57566118

邮箱:zeiss.sale@yosoar.com

地址:昆山市春晖路664号嘉裕国际广场1幢1001室

蔡司GeminiSEM450扫描电子显微镜交付中科大

   中国科学技术大学理化科学实验中心新购置的蔡司GeminiSEM 450场发射扫描电子显微镜已于近期安装完毕。本仪器配备Gemini2双聚光镜电子光学镜筒,可在低束流的高分辨率成像与高束流的分析模式之间进行无缝切换,为各种不同应用提供全方位的适用性和灵活性。可观察物体二次电子像、背散射电子像,同时可进行X射线能谱分析和背散射电子衍射分析。

蔡司扫描电子显微镜

  1. 固体物质表面形貌观察

  观察样品时可不喷金或者少喷金,可广泛应用于生物、物理、化学、纳米材料、金属材料、高分子材料等方面的表面形貌观察、粒度测量、集成电路质量检验、断口分析、失效分析等。

  2. 背散射电子像(BSE)

  背散射电子像可显示出试样微区原子序数或化学成分的差异,即试样的成分衬度。根据背散射电子像的亮暗程度,可判别出相应区域的原子序数的相对大小,由此可对陶瓷、金属或合金等材料的显微结构进行分析。

  3. X射线能谱(EDS)

  配备牛津Aztec系列X射线能谱仪,分析元素范围5B ~92U,可对固体物质进行微区元素成分分析,适用于生物学、医学、化学、化工学、物理学、金属学等相关学科的有关物体的微区元素定性、半定量分析。

  4. 背散射电子衍射(EBSD)

  BSD可测定晶体材料的晶体结构和取向,用于研究材料的微观组织结构和织构,已成为材料研究中一种有效的分析手段。目前EBSD技术的应用领域包括:工业生产的金属和合金、陶瓷、半导体、超导体、矿石——以研究各种现象,如热机械处理过程、塑性变形过程、与取向关系有关的性能(成型性、磁性等)、界面性能(腐蚀、裂纹、热裂等)、相鉴定等。

  仪器主要技术指标:

  二次电子像分辨率:0.7nm @15kV, 1.1nm@1kV(非样品台减速模式下);分析分辨率:2.0 nm @ 15 kV(≥5nA);

  能谱仪:分辨率(MnKa)127eV,分析元素范围:5B~92U

  电子背散射衍射仪(EBSD):相机分辨率:1344*1024像素,角分辨率:0.05度,最大速度:100Hz

若您对蔡司扫描电子显微镜有意向欢迎您来电或在线咨询,我们将安排工程师为您提供详细解答和制定方案。4001500108