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蔡司高分辨率X射线显微镜与高精度测量的结合Xradia Versa

   通过ZEISS Xradia Versa 蔡司X射线显微镜将亚微米细节引入了一个全新的无损洞察领域。现在,借助针对蔡司Xradia 620/520 Versa的新型蔡司Metrology Extension(MTX)产品,可以进行尺寸测量,其精度远远超过了传统X射线计算机断层扫描(CT)技术的极限。蔡司通过对(1.9 + L / 100)μm的最大允许误差(MPE)值进行简单校准,为工业制造和基础研究中的X射线显微镜开辟了全新的应用领域。蔡司继续为客户提供“保护您的投资”战略,通过为MTX提供现场升级选件—除了为其提供新工具之外,还扩展了现有安装基础的功能。

蔡司X射线显微镜

  组装好的智能手机相机镜头的测量结果

  通过蔡司X射线技术实现的业界很高的分辨率和很清晰的对比度,已经使亚微米级的完整样本检测成为可能,包括在受控环境中以及随时间推移对微结构进行非破坏性表征的原位成像。蔡司工业计量学X射线质量解决方案经理Herminso Gomez说:“小型设备中组件的小型化和集成正在对工业制造中的高分辨率计量学产生日益增长的需求。” “通过添加用于蔡司Xradia Versa X射线显微镜的计量扩展,用户现在可以为此目的获得世界上高精确度的CT计量套件。”

  现在,MTX选项增加了以小尺寸(例如,每边5毫米的立方体)以高尺寸精度进行测量的能力。为此,蔡司根据相关的VDI / VDE 2630-1.3指南开发了一种新的长度测量标准XRM Check。借助集成的,由用户指导的校准工作流程,用户可以将ZEISS Xradia Versa X射线显微镜校准为经验证的市场先进的测量精度,即MPESD =(1.9 + L / 100)μm,其中L是以毫米为单位的测量尺寸。这样可以进行准确的测量,并可以使用标准的度量软件对收集的数据进行进一步的尺寸分析。

  X射线显微镜的新应用

  X射线显微镜提供的无损见解始终为研究,开发和质量保证提供了明显的优势。现在,高分辨率X射线显微镜和高精度计量技术的结合揭示了该技术的全新应用。它的优势在于评估内部和外部结构,特别是对于传统的触觉或光学三坐标测量机无法访问的组件(例如,内部空腔,难以触及或“隐藏”的特征以及柔性或易变形的材料)。

  塑料连接器的测量结果

  借助蔡司X射线显微镜Xradia Versa的计量扩展,用户可以确定与计算机辅助设计(CAD)中定义的公称几何形状有关的尺寸偏差,以实现注塑成型塑料连接器或喷油嘴等小型组件的功能。甚至可以使用多种标准来测量复杂的零件,例如智能手机摄像头镜头组件。与破坏性方法相比,X射线测量检查技术不仅节省时间和金钱,而且由于高度精确的测量结果,可以使制造设计和工艺以及产品质量提高到一个全新的水平。

蔡司X射线显微镜

  Herminso Gomez表示:“有了Metrology Extension,我们的用户可以以最小的数量获得可追溯的结果,蔡司将继续其创新文化,以推动其客户的进步,效率和成功,并再次推动基于3D X射线的技术可以做到的限制。”

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